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　　LCR測試儀就是用來測試元器件（電容/電感/電阻）參數的。在一般情況下，電阻只要測量其直流電阻值就可以了，這樣可以使用萬用表或者電阻測試儀。

　　

　　用儀器測量元器件的參數時，其關鍵問題是測量誤差。它的誤差來源主要有兩部分，首先是測試儀本身的內部誤差，其次是由不正確校準、測試件的連接方法及不正確選擇測量電路模型引起的。一般連接方法越麻煩越能準確地測量出元器件的參數。

　　

　　LCR測試儀的校準

　　

　　首先對測試儀進行開路校準，開路校準主要是消除測試夾具與被測件相并聯的雜散導納。其次是進行短路校準，通過一短路條（用低阻抗的金屬板）將高、低電極相連。短路校準主要是消除測試夾具與被測件相串聯的殘余阻抗的影響。

　　

　　選擇測量電路模型

　　

　　對于小電容、大電感來說，電抗一般都很大。這意味著并聯電阻的影響相對于小數值串聯電阻更加顯著，所以應采用并聯電路模型。相反，對于大電容、小電感則采用串聯模型。大于10K11左右用并聯，小于10KQ左右用串聯。

　　

　　LCR測試儀與被測件的連接

　　

　　對測試電纜和被測件進行屏蔽，通過抑制雜散電容，減少對高阻抗測試的測量誤差。一般用于小電容的測量。為了將測試引線的雜散電容減小，測試電纜引線的中心導體應維護盡可能短，測量接頭的屏蔽與電纜中心導體互聯，以降低對地雜散電容的影響。

　　

　　隨著科學應用技術不斷發展的需要，LCR測試儀的測量精度要求越來越重要，因此測量方法的好壞對保征產品質量和提高企業經濟效益有著一定的實際意義。